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| 什么是涂层测厚仪 |
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[ 2008-4-9 15:40:00 | By: shingowolf ] |
什么是涂层测厚仪?
涂层测厚仪是测量涂层厚度的仪器.
涂层测厚仪可以分为3种测量方式
电磁式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铁或钢）
高周波式：可测量金属底材上的非磁性镀层（底材为铝、铜和黄铜）
双制式：兼具以上两种功能
常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
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